Detecting transient voltage stability and voltage sag
- Jurado, F.
- Saenz, J.R.
ISSN: 0332-1649
Año de publicación: 2004
Volumen: 23
Número: 2
Páginas: 392-409
Tipo: Artículo
Revista:
COMPEL - The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering