Detecting transient voltage stability and voltage sag
- Jurado, F.
- Saenz, J.R.
ISSN: 0332-1649
Ano de publicación: 2004
Volume: 23
Número: 2
Páxinas: 392-409
Tipo: Artigo
Revista:
COMPEL - The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering