Detecting transient voltage stability and voltage sag
- Jurado, F.
- Saenz, J.R.
ISSN: 0332-1649
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 23
Nummer: 2
Seiten: 392-409
Art: Artikel
Zeitschrift:
COMPEL - The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering