Detecting transient voltage stability and voltage sag

  1. Jurado, F.
  2. Saenz, J.R.
Revista:
COMPEL - The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering

ISSN: 0332-1649

Any de publicació: 2004

Volum: 23

Número: 2

Pàgines: 392-409

Tipus: Article

DOI: 10.1108/03321640410510569 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus