High-resolution pursuit for detecting flaw echoes close to the material surface in ultrasonic NDT

  1. Ruiz-Reyes, N.
  2. Vera-Candeas, P.
  3. Curpián-Alonso, J.
  4. Cuevas-Martínez, J.C.
  5. Blanco-Claraco, J.L.
Revista:
NDT and E International

ISSN: 0963-8695

Año de publicación: 2006

Volumen: 39

Número: 6

Páginas: 487-492

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.NDTEINT.2006.02.002 GOOGLE SCHOLAR
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