High-resolution pursuit for detecting flaw echoes close to the material surface in ultrasonic NDT
- Ruiz-Reyes, N.
- Vera-Candeas, P.
- Curpián-Alonso, J.
- Cuevas-Martínez, J.C.
- Blanco-Claraco, J.L.
ISSN: 0963-8695
Datum der Publikation: 2006
Ausgabe: 39
Nummer: 6
Seiten: 487-492
Art: Artikel