Fixed kernel regression for voltammogram feature extraction
- Acevedo Rodriguez, F.J.
- López-Sastre, R.J.
- Gil-Jiménez, P.
- Ruiz-Reyes, N.
- Maldonado Bascón, S.
ISSN: 0957-0233, 1361-6501
Año de publicación: 2009
Volumen: 20
Número: 12
Tipo: Artículo
ISSN: 0957-0233, 1361-6501
Año de publicación: 2009
Volumen: 20
Número: 12
Tipo: Artículo