Fixed kernel regression for voltammogram feature extraction

  1. Acevedo Rodriguez, F.J.
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  3. Gil-Jiménez, P.
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  5. Maldonado Bascón, S.
Revista:
Measurement Science and Technology

ISSN: 0957-0233,  1361-6501

Ano de publicación: 2009

Volume: 20

Número: 12

Tipo: Artigo

DOI: 10.1088/0957-0233/20/12/125202 GOOGLE SCHOLAR
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