Photoelastic testing and FE analysis of T-stub model
- Carazo Álvarez, D.
- Haq, M.
- Carazo Álvarez, J.D.D.
- Patterson, E.A.
ISSN: 2191-5644, 2191-5652
ISBN: 9781461442349
Año de publicación: 2013
Volumen: 3
Páginas: 359-367
Tipo: Aportación congreso