Photoelastic testing and FE analysis of T-stub model
- Carazo Álvarez, D.
- Haq, M.
- Carazo Álvarez, J.D.D.
- Patterson, E.A.
ISSN: 2191-5644, 2191-5652
ISBN: 9781461442349
Ano de publicación: 2013
Volume: 3
Páxinas: 359-367
Tipo: Achega congreso
ISSN: 2191-5644, 2191-5652
ISBN: 9781461442349
Ano de publicación: 2013
Volume: 3
Páxinas: 359-367
Tipo: Achega congreso