Sistema de inspección de defectos en lentes de proyectores de vehículos

    Inventores/as:
  1. SILVIA MARÍA SATORRES MARTÍNEZ
  2. JAVIER GÁMEZ GARCÍA
  3. JUAN GÓMEZ ORTEGA
  4. ALEJANDRO SÁNCHEZ GARCÍA
  5. ILLANA RICO, Sergio
  6. CÁCERES MORENO, Óscar
  1. Universidad de Jaén
    info

    Universidad de Jaén

    Jaén, España

Nacional
Publicación principal:

ES2626487A1 (25-07-2017)

Otras Publicaciones:

ES2626487B1 (04-07-2018)

Solicitudes:

P201730555 (31-03-2017)

Imagen de la patente

Resumen

Perfeccionamiento en la solicitud de patente número P200930628 titulada "sistema de iluminación activo binario" donde en el sistema de iluminación comprende una fuente de iluminación (1), medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes (1, 3) y un sistema de visión por computador enfrentado dichos medios (6) de manera que entre la fuente y los medios para generar el patrón queda definida una zona de inspección destinada a albergar una lente a inspeccionar. El sistema está provisto dos carcasas (2a, 2b) que comprenden dos placas de circuito impreso (PCB) a ambos lados de la zona de inspección, estando provista cada plaza de una pluralidad de LEDs, y teniendo cada carcasa un actuador lineal (4) y un mecanismo de giro (5) de manera que la distancia y el ángulo entre los LEDs y la zona de inspección son variables.

INVENES: P201730555