Nuevo enfoque para el análisis de la calidad posicional en cartografía mediante estudios basados en la geometría lineal
- Alan D.J. Atkinson Gordo
- Francisco Javier Ariza López
Argitaletxea: Universidad de Cantabria
Argitalpen urtea: 2002
Orrialdeak: 366-375
Biltzarra: Congreso Internacional de Ingeniería Gráfica (INGEGRAF) = International Congress INGEGRAF (14. 2002. Santander)
Mota: Biltzar ekarpena