Comparison between discrete STFT and wavelets for the analysis of power quality events
- Jurado, F.
- Saenz, J.R.
ISSN: 0378-7796
Datum der Publikation: 2002
Ausgabe: 62
Nummer: 3
Seiten: 183-190
Art: Artikel
ISSN: 0378-7796
Datum der Publikation: 2002
Ausgabe: 62
Nummer: 3
Seiten: 183-190
Art: Artikel